随着可重构智慧表面 (Reconfigurable Intelligent Surface；RIS) 技术日益受到关注，并被视为下一代高频通讯解决方案，建构准确且弹性的量测环境已成为 RIS 技术研究中的关键要素。RIS 技术能让高频讯号穿透室内环境，可有效解决毫米波 (mmWave) 通讯在穿透建筑物窗户时的讯号衰减问题。

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韩国电子通信研究院 (ETRI) 近日展示其最新开发的 RIS 技术，采用 Anritsu 安立知的向量网路分析仪 (VNA) MS46122B 作为关键量测仪器，即使在有限空间的设置中也能展现高精度的量测表现。ETRI 新开发的技术采用透明 PET 薄膜为基材的微型天线阵列，可直接贴附於窗户表面，无需使用主动式中继器，即可最大化讯号穿透能力。

在照片中呈现的实验配置中，ETRI 使用 Anritsu 安立知的双埠 VNA MS46122B，对比贴有 RIS 薄膜的玻璃与普通玻璃之间的 S 叁数和传输损耗。MS46122B 是一款 USB 外接式精巧型向量网路分析仪，最高支援 43.5 GHz，无论在实验室或现场环境中，皆能提供稳定且可重复的高频量测，且无需复杂的传统设定流程。

Anritsu 安立知的 VNA 已广泛应用於各大研究机构与产业界，评估高频材料、天线与讯号传输特性。MS46122B 正逐渐成为量化评估 RIS 与超表面 (metasurface) 技术效能的核心仪器。该解决方案具备可扩充性，支援 mmWave、FR2 与 FR3 频段，是研究团队在推动 RIS 技术实现 5G-Advanced 与未来 6G 时代商用化部署的理想选择。

Anritsu 安立知表示：「RIS 是解决高频通讯室内涵盖问题的核心技术，Anritsu 安立知的 MS46122B 是一款体积精巧且高性能的 VNA，即使在空间受限的环境中也能确保量测结果的可靠性，为 RIS 技术的验证和商转奠定坚实的基础。」