發光二極體（LED）常被用於各種現代電子設計與系統中，以提供影像顯示與狀態檢視的功能。在機板日趨複雜之際，廠商紛紛尋求更多的測試功能，來檢驗每個元件。而這將會使得邊界掃瞄測試（Boundary Scan Test；BST）演進到加入具備完整功能的內建自我測試（Build-in Self Test；BIST）技術。業者面臨的挑戰在於至今仍有一些元件的自動測試功能有限，必須依賴人工測試或目測來偵測故障狀況。這類LED可製造出1美元成本的零組件，應用在售價達1萬美元的線路卡或系統中，因此，零組件品質的優劣會直接影響顧客滿意度，以及對整體產品品質的觀感。

LED測試瓶頸

LED的故障通常可分為兩大類。第一，當LED在插入前置面板顯示器或其他狹小空間時，因元件故障、電路板組裝問題以及機械組裝破損，會造成電子開路與短路。第二種則是當鄰近LED在被激化至相同狀態時，其色彩與亮度會出現不一致的狀況。利用BST檢驗線路的連續性，就能在其他元件中找出第一種故障形態。但在獨立型LED中，內建BST功能並不是一種可行的作法，製造工程師只好以目測方式來檢驗LED。目測的檢驗流程是由技術人員觀察LED狀態，之後再回報所有元件都正常無誤。這種重複性的作業容易出現人為失誤，因此檢驗更加複雜，以確保技術人員沒有分心出錯。對於測試人員與業者而言，這種測試流程都不是一種有效率、具有附加價值的方法。
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