在現在的電子產業中，微處理器（microprocessor）的重要性無庸置疑。除了被用來當做電腦的中央處理單元（central processing unit；CPU）外，也是許多電子消費產品的大腦。自Intel 4004問世以來至今，隨著微處理器在晶片面積、性能與複雜度各方面的快速成長，其設計驗證（design verification）與生產測試（manufacturing testing）的難度也隨之增加。本文的主題為微處理器的生產測試技術，內容將涵括目前主要的測試策略、在系統晶片（System on Chip；SoC）時代所面臨的新挑戰以及可能的解決之道。

微處理器模型

如(圖一)所示，吾人可將微處理器分割為處理器（processor）與記憶體兩部份，而前者又可更進一步分為控制單元（control unit）與資料通道（datapath）。一般而言，資料通道包含對資料進行各種數學、邏輯運算的電路與存放暫時運算結果的暫存器；控制單元則為一有限狀態機器（finite state machine；FSM），根據指令對資料通道送出適當的控制信號；記憶體則儲存軟體程式與資料。
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