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意法半导体新增四款抗辐射航天半导体産品组合
 

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2011年10月04日 星期二

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意法半导体(STMicroelectronics)昨(3)日宣布,其欧洲抗辐射航天半导体産品组合新增四款获QML V官方认证的放大器芯片。获认证的新产品进一步巩固了该公司在抗辐射模拟组件的坚实基础。意法半导体的抗辐射模拟组件拥有极强的抗辐射性能,在已发现的恶劣太空环境中能够正常运作,确保设备具有更长的耐用性。

抗辐射模拟放大器芯片
抗辐射模拟放大器芯片

意法半导体高可靠性和标准産品部总经理Alberto De Marco表示,根据卫星産业协会最新研究报告数据显示,全球卫星産业正稳健发展中。2010年全球卫星市场收入总计1681亿美元,近五年来平均成长超过11.2%。在娱乐、导航、通讯等许多日常生活方面我们都离不开卫星,卫星的功能和可靠性极其重要,意法半导体推出的这四款全新産品能够在太空中承受已被发现的辐射强度,这对于卫星正常运作至关重要。

意法半导体以300 krad(Si)的标准抗离子化辐射能力(总离子化剂量测试,简称TID),包括抗低速率辐射测试,而成爲航天工业的半导体组件抗辐射参考标准。无强化型低剂量速率敏感效应(ELDRS-free)芯片让意法半导体成爲首家获得抗辐射保证(RHA)认证的半导体供货商。透过推出无单一事件锁定(Single Event Latch-up,SEL)效应和单一事件错误中断测试(Single Event False Interrupt,SEFI)效应的组件,意法半导体拥有市场上最高的抗离子化辐射能力,将防止重离子引起烧伤的抗辐射技术提高至新一层级。

關鍵字: ST 
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