帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
R&S汽車天線罩測試儀增強軟體性能 推升材料反射量測精度
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2021年02月04日 星期四

瀏覽人次:【3864】

R&S QAR汽車天線罩測試儀是一種為雷達整合測試量身定制的解決方案,用於分析和評估天線罩和保險桿的雷達相容性。羅德史瓦茲(R&S)增強了R&S QAR,藉由全新的R&S QAR-K50多合一量測軟體,整車廠和Tier 1供應商能用二維的非破壞檢測,獲得與向量網路分析儀(VNA)和准光學(QO)裝置非常接近的量測結果。R&S QAR操作也相當簡便直觀,使用上具備方便性。

R&S QAR藉由全新的R&S QAR-K50多合一量測軟體,整車廠和Tier 1供應商能用二維的非破壞檢測,獲得與向量網路分析儀和准光學裝置非常接近的量測結果。
R&S QAR藉由全新的R&S QAR-K50多合一量測軟體,整車廠和Tier 1供應商能用二維的非破壞檢測,獲得與向量網路分析儀和准光學裝置非常接近的量測結果。

R&S QAR是一種毫米波成像系統,用來對高要求的天線罩和保險桿材料進行測試和驗證,具有高性能、高測試速度、高品質和直觀操作的特色,非常適合用來開發、生產到驗證天線罩材料,以及整合76GHz至81GHz雷達。

一般而言,空間分辨率較高時,入射角分散也會更大。典型的雷達感測器具有一定的視角,例如,全範圍雷達(FRR)為+/-10°,短程雷達(SRR)為+/-60°。從材料特性量測技術出發,天線罩的反射參數主要為垂直入射角進行定義,因為這些參數可以用VNAs量測。R&S QAR-K50軟體選項解決了這個問題。

將R&S QAR的量測結果與標準向量網路分析儀(VNA)和准光學(QO)裝置的量測結果進行比較,可以觀察到一些偏差,並用R&S QAR使用的較大光圈加以解釋。

R&S QAR-K50軟體選項這時就能發揮作用,它能自動檢測材料樣品的最高反射,並在測試區域進行平均。確定反射區域的平均值後,它能在7秒內將其作為量測結果顯示給使用者。該值與VNA的S11和S22反射測量結果非常匹配。

在研發時使用VNA和QO裝置進行的量測,現在可以直接與R&S QAR量測進行比較。與VNA裝置相比,該裝置仍採用微波成像,但天線孔徑較小,因此對定位誤差不太敏感,更適合量產環境。

R&S QAR-K50軟體可自行檢測正確的量測區域,並在樣本位置稍微超出公差時向操作員提供光學回饋。R&S QAR現在將其用於均勻性分析的高解析度圖像(R&S QAR-K10軟體),與一個堅固且易於使用的反射量具相結合。使用R&S QAR-K50軟體選項獲得的量測值與VNAs在QO裝置中提供的結果具有直接可比性。

用於多合一量測的R&S QAR-K50軟體選項可以安裝在所有Windows 10儀器上,最新韌體使用金鑰啟動。產品現已上市。

關鍵字: 雷達整合  R&S 
相關產品
羅德史瓦茲新款R&S ZNB3000向量網路分析儀適合量產環境
R&S推出RT-ZISO隔離探針測量系統 用於快速切換信號精確測量
R&S新款3GPP 5G一致性測試解決方案縮小設備占地面積
R&S攜手高通測試3GPP Rel. 17 GSO和GEO衛星晶片組
R&S信號產生器和分析儀被批准用於測試5G RAN平台
  相關新聞
» 【Computex】研華攜手高通 加速推動AIoT邊緣智慧創新
» [Computex] 英特爾在台成立40週年 發表新款GPU產品
» 新型高靈敏度低成本氫氣偵測技術亮相 性能顯著超越現有產品
» 印度研究人員開發環保新技術 把廢水轉化為有價能源
» Anritsu 安立知 Site Master 系列手持式測試儀新增 VNA 與 VVM 功能
  相關文章
» Micro LED成本難題未解 Aledia奈米線技術能否開創新局?
» 高速時代的關鍵推手 探索矽光子技術
» xPU能效進化論 每瓦特算力成為AI時代新價值
» 氫能技術下一步棋
» 擴展AI叢集的關鍵挑戰

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2025 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.18.216.82.12
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw