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Anritsu 安立知与 Fujikura 合作多方验证次世代光通讯的 WC-MCF 核心串扰一致性
采用多种量测技术,精准评估弱耦合多芯光纤核心间串扰,助力研发、制造与维护应用标准化

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2025年07月02日 星期三

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Anritsu 安立知与藤仓株式会社 (Fujikura Ltd.) 合作,采用多种量测方法针对弱耦合型多芯光纤 (Weakly Coupled Multi-core Optical Fibers;WC-MCF) 之核心间串扰进行比较测试,成功验证各方法量测结果具有高度一致性。两家公司将於 2025 年 6 月 29 日至 7 月 3 日在日本札幌举行的国际光电与通讯会议 (OptoElectronics and Communications Conference;OECC 2025) 中正式发表此项重要研究成果。

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因应人工智慧 (AI) 与云端服务应用日益普及,海底光缆与资料中心互连对光纤传输容量的需求急遽上升。现今光通讯系统主要仰赖单模光纤 (single-mode fiber;SMF) 与先进的讯号最隹化技术,以实现高速数据传输。然而,随着单一光纤的传输容量不断推升,现有技术正逐步逼近其物理与效能极限。

因此,近期研发重点聚焦於在单根光纤中具备多个独立传输核心的弱耦合型多芯光纤。尽管此类光纤可大幅提升传输容量,但由於各核心间光讯号可能产生光漏干扰而导致串扰 (crosstalk) 现象,进而降低传输品质。此现象不仅受限於光纤设计与制程差异,也会因安装环境而有所变化,因此需在实际场域中评估核心间串扰。目前已有多家公司与研究机构提出多种测量核心间串扰的方法,惟其结果仍有待充份验证。

此次比较评估由 Anritsu 安立知与 Fujikura 合作执行,针对弱耦合型多芯光纤进行核心间串扰量测,采用四种方法:其中两种为光功率计量测,另两种则透过 Anritsu 安立知的光时域反射仪 (OTDR) 进行光纤损耗与反射分析。该测试所使用的 Fujikura 四芯弱耦合多芯光纤,具备 125 微米 (μm) 标准包层直径,在 1550 nm波长下,四种量测方法所得结果皆落在 ±1.0dB 范围内。因此,根据弱耦合多芯光纤的实际应用,如研发 (R&D)、制造以及安装与维护 (I&M),可依需求选用上述任一种量测方法,皆能确保所得结果间具备一致性与良好对应性。此外,这些结果亦将有助於推动弱耦合型多芯光纤量测方法的标准化进程。

Anritsu 安立知将持续致力於提供弱耦合多芯光纤测试解决方案,推动下一代光通讯技术的实际应用。

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