帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
Anritsu 安立知與 Fujikura 合作多方驗證次世代光通訊的 WC-MCF 核心串擾一致性
採用多種量測技術,精準評估弱耦合多芯光纖核心間串擾,助力研發、製造與維護應用標準化

【CTIMES/SmartAuto Jason Liu 報導】   2025年07月02日 星期三

瀏覽人次:【388】

Anritsu 安立知與藤倉株式會社 (Fujikura Ltd.) 合作,採用多種量測方法針對弱耦合型多芯光纖 (Weakly Coupled Multi-core Optical Fibers;WC-MCF) 之核心間串擾進行比較測試,成功驗證各方法量測結果具有高度一致性。兩家公司將於 2025 年 6 月 29 日至 7 月 3 日在日本札幌舉行的國際光電與通訊會議 (OptoElectronics and Communications Conference;OECC 2025) 中正式發表此項重要研究成果。

Anritsu 安立知與 Fujikura 合作多方驗證次世代光通訊的 WC-MCF 核心串擾一致性
Anritsu 安立知與 Fujikura 合作多方驗證次世代光通訊的 WC-MCF 核心串擾一致性

因應人工智慧 (AI) 與雲端服務應用日益普及,海底光纜與資料中心互連對光纖傳輸容量的需求急遽上升。現今光通訊系統主要仰賴單模光纖 (single-mode fiber;SMF) 與先進的訊號最佳化技術,以實現高速數據傳輸。然而,隨著單一光纖的傳輸容量不斷推升,現有技術正逐步逼近其物理與效能極限。

因此,近期研發重點聚焦於在單根光纖中具備多個獨立傳輸核心的弱耦合型多芯光纖。儘管此類光纖可大幅提升傳輸容量,但由於各核心間光訊號可能產生光漏干擾而導致串擾 (crosstalk) 現象,進而降低傳輸品質。此現象不僅受限於光纖設計與製程差異,也會因安裝環境而有所變化,因此需在實際場域中評估核心間串擾。目前已有多家公司與研究機構提出多種測量核心間串擾的方法,惟其結果仍有待充份驗證。

此次比較評估由 Anritsu 安立知與 Fujikura 合作執行,針對弱耦合型多芯光纖進行核心間串擾量測,採用四種方法:其中兩種為光功率計量測,另兩種則透過 Anritsu 安立知的光時域反射儀 (OTDR) 進行光纖損耗與反射分析。該測試所使用的 Fujikura 四芯弱耦合多芯光纖,具備 125 微米 (μm) 標準包層直徑,在 1550 nm波長下,四種量測方法所得結果皆落在 ±1.0dB 範圍內。因此,根據弱耦合多芯光纖的實際應用,如研發 (R&D)、製造以及安裝與維護 (I&M),可依需求選用上述任一種量測方法,皆能確保所得結果間具備一致性與良好對應性。此外,這些結果亦將有助於推動弱耦合型多芯光纖量測方法的標準化進程。

Anritsu 安立知將持續致力於提供弱耦合多芯光纖測試解決方案,推動下一代光通訊技術的實際應用。

相關新聞
先進封裝技術崛起 SEMICON Taiwan 2025引領系統級創新
川普TACO規律再現?美恢復對中出口EDA軟體
沙灘清潔進入智慧時代 安大略省湖灘導入全新電力機器人
歐盟劍指2030量子科技霸主地位 聚焦技術突破與產業化
中華精測以車用與AI晶片測試需求雙引擎推升動能
相關討論
  相關文章
» 女媧創造運用AWS打造AI機器人生態系
» 快速建立現場韌體更新機制——MDFU
» CPO引領高速運算新時代 從設計到測試打造電光融合關鍵實力
» Microchip:整合AI/ML技術 PIC32A系列MCU鎖定邊緣智慧應用
» 從烏克蘭到AI製造鏈的戰略新局


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2025 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.216.73.216.145
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw