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Tektronix展示为资料中心网路开发的最新光学测试创新技术 (2017.03.17)
Tektronix在OFC 2017上将展示100G、400G标准光学量测技术的最新发展，以及支援多OMA系统的光学调变分析软体的端对端示范? 全球量测解决方案供应商Tektronix(太克科技)将在​​OFC 2017上展示为资料中心网路所开发的最新光学通讯测试技术，OFC 2017是专为全球光学通讯和网路专业人士所举办的研讨会
Tektronix光学通讯测试技术再获美国专利 (2002.02.06)
太克科技(Tektronix)近日宣布其数字相位分析（Digital Phase Analysis，简称DPA）技术获得美国的专利。这是一套创新的、领先业界的抖动分析法，可用于光学通讯网络的测试。当拨打电话时，抖动常会造成消费者无法拨通电话或不良的通话服务质量
太克发表光学通讯测试科技 (2000.09.05)
太克科技(Tektronix)宣布，该公司发表数字相位分析(Digital Phase Analysis, DPA)科技，该技术为电信网络抖动与同步测试科技。太克在使用OTS9000系列光学测试系统中引入DPA科技，可协助制造商和网络业者满足及执行处理不停扩充的全球通讯基础结构所需的每秒10Gigabit(Gb/s)测试需求


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