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是德科技發表WaferPro Express 2015量測軟體平台 (2015.05.06)
是德科技（Keysight）日前發表WaferPro Express 2015量測軟體平台，以協助工程師實現自動化晶圓級元件和電路元件特性分析。WaferPro Express可在晶片級量測系統（包含儀器和晶圓探測器）中，有效地控制所有元件，以便降低量測配置的複雜性，並提供結合自動量測和資料管理的統一平台


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